Skaningowy mikroskop elektronowy

Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL JSM-6340F
Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL JSM-5500

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM, z ang. scanning electron microscope) – rodzaj mikroskopu elektronowego umożliwiający obserwację topografii badanego materiału[1]. Służy do obserwacji i charakteryzacji materiałów organicznych i nieorganicznych w skali od nanometrycznej do mikrometrycznej. Wiązką pierwotną w tej metodzie badawczej jest wiązka elektronów[2].

Inne języki
Bahasa Indonesia: Mikroskop pemindai elektron
Lëtzebuergesch: Rasterelektronemikroskop