תהודה מגנטית אלקטרונית

תהודה מגנטית אלקטרונית (או: תהודה פראמגנטית אלקטרונית; תמ"א) היא שיטה ספקטרוסקופית לאפיון חומרים פאראמגנטיים. השיטה משמשת לחקר מבניהם ותכונותיהם של מאקרו-מולקולות ביולוגיות (כגון חלבונים[1][2].[3][4][5], דנ"א[6][7][8][9], רנ"א[10][11][12]), רדיקלים אורגניים[13][14][15][16][17][18][19] ואנאורגניים[20][21][22], פגמים נקודתיים במוצקים גבישיים[23][24][25][26], קומפלקסים של מתכות מעבר[27][28][29][30], חומרים מזופורוזיביים[31][32][33], ממברנות פוספוליפידים[34][35][36][37][38][39] ועוד.

השיטה מבוססת על אינטראקציות בין אלקטרונים בלתי-מזווגים לבין שדות מגנטיים: אלקטרון בלתי מזווג הנמצא בשדה מגנטי מסוגל בתנאים מסוימים לבלוע קרינת מיקרוגל. מתוך מדידת התנאים בהם מתרחשת בליעה ניתן להסיק על הסביבה הפיזיקלית והכימית שבה נמצא אותו אלקטרון, וכך ללמוד על מבנה החומר שמכיל את האלקטרון הזה.

תופעת התמ"א התגלתה על ידי הפיזיקאי הסובייטי יבגני זאבויסקי (en:Yevgeny Zavoisky) מאוניברסיטת קאזאן ב-1944.

Other Languages
беларуская (тарашкевіца)‎: Электронны парамагнітны рэзананс
norsk nynorsk: Elektronspinnresonans
srpskohrvatski / српскохрватски: Elektronska paramagnetna rezonanca